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  • 【マイグレーション現象とは】故障原因、イオン・エレクトロ . . .
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  • マイグレーション現象の概要
    マイグレーションとは電界の影響で金属成分が非金属媒体の上や中を横切って移動する現象である。 この現象では、移動の前後で金属成分は金属状態であり導電性を示す。 この意味に於いては、金属の腐食（酸化やハロゲン化など）によりシミがにじみ出た様に見える現象（腐食性生成物：corrosion_product）はマイグレーションとは呼ばない。 しかし、腐食性生成物はその発生状況がマイグレーションと類似している（例えばデンドライト状）ため、しばしば混同されることがある。 2つのマイグレーションの大きな違いは、電界の有無である。 腐食性生成物は電界が無くても発生するが、マイグレーションは電界が無いと発生しない（1）。 1 2 エレクトロマイグレーションとイオンマイグレーション
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    今回は、非常に稀な電子機器のはんだ付け部のマイグレーション不良について説明します。一般的にマイグレーションというとシルバーマイグレーション（ Ag マイグレーション）が有名であり、そのメカニズムと発生要因は以下の通りです。
  • 電気化学インピーダンス法による銀配線における エレクトロ . . .
    液界面の構造や素過程を検出することが可能な測定方法として電気化学インピー ダンス法(EIS)を 用いたECM評価法が提案されている。EISは測定系に微小な交流信号を印加し,この入力と入力に対す� 応答信号を比較することで電極反応の伝達関数であるインピー ダンスを求め,電極や電解液の電気的特性を評価する解析法である13)。EISは電極界 で起こっている様々な反応をスペクトルとして分離する� とができるため電極の構造や反応プロセスを詳細に調べ� ことができる。 近年,ECM 評価にEIS法を適用した例が報告されている14)~18)。 大関ら14)は 銅のくし型電極のEC
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